Avtor/Urednik		Tivadar, Andrijana; Kočevar, Klemen; Muševič, Igor; Srčič, Stanko
Naslov		Mikroskopija na atomsko silo
Prevedeni naslov		Atomic force microscopy
Tip		članek
Vir		Farm Vestn
Vol. in št.		Letnik 53, št. 3
Leto izdaje		2002
Obseg		str. 277-91
Jezik		slo
Abstrakt		Since the invention of AFM (atomic force microscopy) in the year 1986 (Binning and Rohrer), it has become an important tool for near-atomic resolution observations of cunducting as well as non-conducting surfaces and for the direct measurement of intermolecular forces. The operating principle of an atomic force microscope is based on the detection of interatomic forces between a sharp probing tip and a surface. The advantages of AFM are high resolution, simple sample preparation, no requirement for vacuum, the ability to measure forces down to 10-12 N and a sample which need not to be conductive. AFM also allows the observation of »in situ« processes occurring at interfaces burried in liquid media. The article describes the construction and modes of operation of such a microscope. We briefly describe some applications of AFM in pharmaceutical science too.
Izvleček		Mikroskopija na atomsko silo je metoda za proučevanje površin, ki sta jo leta 1986 razvila Binning in Rohrer. Z mikroskopom na atomsko silo, ki je trenutno eden izmed najbolj vsestranskih mikroskopov, lahko proučujemo tako prevodne kot neprevodne površine z nanometrsko oz. subnanometrsko ločljivostjo. Princip delovanja mikroskopa na atomsko silo temelji na natančnem merjenju sile med ostro konico in površino vzorca. Prednosti mikroskopije na atomsko silo so visoka ločljivost in enostavna priprava vzorcev; za delo ne potrebujemo vakuuma. Omogoča nam tudi delo v vodnem ali drugem tekočinskem mediju in s tem »in situ« spremljanje različnih procesov na mejnih površinah. Merimo lahko tudi sile velikosti od 10-4 do 10-12 N. V prispevku je opisana zgradba in delovanje mikroskopa ter razlaga sil, ki lahko delujejo med meritvijo. Na kratko smo predstavili tudi nekaj možnosti za uporabo mikroskopa na atomsko silo v farmaciji.
Deskriptorji		MICROSCOPY, ATOMIC FORCE MICROSCOPY, SCANNING TUNNELING TECHNOLOGY, PHARMACEUTICAL